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突触数密度Disector测量法的建立与计算机辅助分析的实现

和计数待测粒子的截面数；另一平面称为核查平面(look-up plane)用于核查两个平面间待测粒子截面数的差别［4，7，8］。其中粒子截面数的计数应遵循Gundersen法则：(1)落在测试系统内的粒子为有效粒子；(2)仅与包容线(即图1中覆盖在计数切片上测试框的虚线)相交的粒子为有效粒子；(3)凡与排斥线(即图1中覆盖在计数切片上测试框的实线)相交，无论是否与包容线相交均为无效粒子［9］。在测量突触数目时，利用相邻两张电镜切片代替Disector的两个平行平面，分别称为计数切片和核查切片，即Physical disector技术(如图1)。若切片厚度为t,则h=t。

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